共封装光学(CPO)测试难题:成本瓶颈与制造良率的产业破局之路
全球要闻Premium Analysis

共封装光学(CPO)测试难题:成本瓶颈与制造良率的产业破局之路

随着人工智能与超大规模数据中心对数据传输带宽需求的指数级增长,共封装光学(CPO)技术已成为突破电互连瓶颈的关键路径。然而,作为一名半导体行业分析师,我认为目前制约CPO大规模商业化落地的核心痛点已从技术验证转向了生产端的测试成本与良率控制。在传统的电子封装中,测试流程相对成熟,但CPO将光子集成电路(PIC)与电芯片(ASIC)集成在同一基板上,这种异构集成引入了极其复杂的测试挑战。 首先,从

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硅光子技术规模化部署:测试环节成为产业链跨越式发展的核心瓶颈
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在后摩尔时代,硅光子(Silicon Photonics)被视为解决数据中心互联带宽瓶颈与功耗限制的最优路径。然而,随着该技术从实验室走向大规模制造,其测试环节正面临前所未有的挑战。本次行业报告指出,光纤对准(Fiber Alignment)、耦合效率(Coupling Efficiency)以及偏振管理(Polarization Management)已成为半导体测试设备厂商亟待攻克的关键技术高

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大尺寸光罩从愿景迈向产业路线图:先进制程生产力的关键转折点
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随着半导体产业进入后摩尔时代,Chiplet(芯粒)设计、2.5D/3D先进封装以及大面积异构集成方案已成为提升算力的主流路径。在这一背景下,光罩(Photomask)作为半导体制造的核心环节,正面临前所未有的尺寸挑战。近期产业界达成共识,将“大尺寸光罩”从研发愿景正式纳入行业路线图,这标志着半导体生产设备与生态系统即将迎来一场重大的技术范式转移。 从行业影响来看,大尺寸光罩的引入旨在解决当前掩

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超越HBM局限:Imec垂直堆叠DRAM架构重塑GPU散热与性能疆界
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作为半导体行业分析师,我认为Imec近期发布的关于“GPU上方垂直堆叠DRAM(3D Volumetric DRAM-on-GPU)”的研究,标志着内存架构正进入一个极其关键的转折点。长期以来,2.5D封装的HBM(高带宽内存)虽然解决了带宽瓶颈,但随着算力需求的爆炸式增长,GPU与内存之间的物理距离以及散热限制已成为系统性能提升的“天花板”。 从技术架构来看,Imec提出的方案不仅改变了DRA

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10/27/2026|1 VIEWS

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